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XAD-200是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。
鍍層測厚儀：多元迭代的EFP算法充分運用各種已知條件及譜圖，參與運算出更多使用者需求的檢測結果，關聯：已知、未知及半定量，成分、密度、輕元素、有機物、化合物等等。
