X射線熒光光譜儀應用

產品簡介：

X射線熒光光譜儀應用（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

產品型號：EDX-A70

更新時間：2025-10-20

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X射線熒光光譜儀應用

X射線熒光光譜儀應用：根據各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。

近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得最多也。

大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

優點

1.分析速度快，測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10-300秒就可以測部待測元素。

2.x射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體，粉末，液體及晶質，非晶質等物體的狀態也基本上沒有關系，但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化鄧現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著，波長變化用于化學的測定。

3.非破壞分析，在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現式樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重復性好。

4.X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

5.分析精密高，含量測定已經達到PPM級別。

6.制樣簡單，固體，粉末，液體樣品鄧都可以進行分析。

缺點

1.定量分析需要標樣

2.對輕元素的靈敏度要低一些。

3.容易受元素相互干擾和疊加峰影響

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X射線熒光光譜儀應用（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

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X射線熒光光譜儀應用（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。

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